涂層測厚儀探頭F1 工作原理：磁感應 | 分辨力：0.1um 測量范圍：0-1250um 示值誤差：        1、一點校準：±[3%H+1]um        2、兩點校準：±[(1～3)%H+1]um 測量條件:        1、最小曲率半徑：凸1.5mm        2、基體最小面積的直徑：Ф7mm        3、最小臨界厚度：0.5mm 探頭尺寸：Ф12X47mm
		涂層測厚儀探頭N1 工作原理：電渦流 | 分辨力：0.1um 測量范圍：0-1250 | 銅上鍍鉻0-40um 示值誤差：        1、一點校準：±[3%H+1]um        2、兩點校準：±[(1～3)%H+1]um 測量條件:        1、最小曲率半徑：凸3mm        2、基體最小面積的直徑：Ф5mm        3、最小臨界厚度：0.3mm 探頭尺寸：Ф15X73mm

F1探頭是磁性法測量的通用標準探頭，測量范圍0-1250um，可以無損地測量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金等)上非磁性覆層厚度(如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等），基本覆蓋大部分涂層厚度范圍.

N1探頭是渦流法測量的通用標準探頭，測量范圍0-1250um，可測量非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導電覆層厚度(如:橡膠、油漆、陽極氧化膜等)基本覆蓋大部分涂層厚度范圍.

		涂層測厚儀探頭F400 工作原理：磁感應 | 分辨力：0.1um 測量范圍：0-400um 示值誤差：        1、一點校準：±[3%H+1]um        2、兩點校準：±[(1～3)%H+0.7]um 測量條件:        1、最小曲率半徑：凸1mm        2、基體最小面積的直徑：Ф3mm        3、最小臨界厚度：0.2mm 探頭尺寸：Ф12X55mm
		涂層測厚儀探頭F10 工作原理：磁感應 | 分辨力：10um 測量范圍：0-10000um 示值誤差：        1、一點校準：±[3%H+10]um        2、兩點校準：±[(1～3)%H+10]um 測量條件:        1、最小曲率半徑：凸10mm        2、基體最小面積的直徑：Ф40mm        3、最小臨界厚度：2mm 探頭尺寸：Ф27X47mm

     F400為選配探頭，為磁性法測量，可以無損地測量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金等)上非磁性覆層厚度(如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等）；主要用于較薄厚度的涂層測量，可獲得更精準的測量結果和更高的重復性，另外在管材基體直徑較小或者被測區(qū)域接觸面積較小時，F(xiàn)400探頭也是較好的選擇。

     F10為選配探頭，為磁性法測量，可以無損地測量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金等)上非磁性覆層厚度(如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等）；測量范圍由標配的0-1250um擴展至0-10000um，主要用于大厚度的涂層測量。選配F10探頭還應增配2000um、4000um、8000um的標準校準片，用于校準儀器。

		涂層測厚儀探頭F1|90 工作原理：磁感應 | 分辨力：0.1um 測量范圍：0-1250um 示值誤差：        1、一點校準：±[3%H+1]um        2、兩點校準：±[(1～3)%H+1]um 測量條件:        1、最小曲率半徑：平直        2、基體最小面積的直徑：Ф7mm        3、最小臨界厚度：0.5mm 探頭尺寸：Ф7.5X11X200mm
		涂層測厚儀CN02探頭 工作原理：電渦流 | 分辨力：1um 測量范圍：10-200um 示值誤差：        1、一點校準：±[3%H+1]um        2、兩點校準：— 測量條件:        1、最小曲率半徑：平直        2、基體最小面積的直徑：Ф7mm        3、最小臨界厚度：無限制 探頭尺寸：Ф16X67mm

     F1/90為選配探頭，為磁性法測量，可以無損地測量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金等)上非磁性覆層厚度(如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等）；主要用于管材內(nèi)壁的涂層厚度測量。它細長的身形可以輕松的深入其它探頭無法到達的細管中；對于夾層和細縫中的涂層厚度也能很好的測量。

     CN02為選配探頭，主要用于測量線路板上的銅箔厚度，檢測范圍在10-200um之間。